惠瑞捷發表新款半導體測試機,封測雙雄日月光導入安裝V93000
惠瑞捷發表新款半導體測試機,封測雙雄日月光導入安裝V93000
2011.09.02 | 科技

全球大型半導體測試商惠瑞捷(Verigy)今(2)日在台發表創新可擴充等級測試機V93000 Smart Scale,該機種主要是為目前新式積體電路的28奈米高階製程所量身打造,台灣封測雙雄之一的日月光現階段也已導入惠瑞捷晶片系統(SOC)測試平台的安裝。

總經理陳瑞銘表示,Smart Scale系列屬於「智慧型」測試機,採用per-pin架構設計,主要特色在於,每個針腳皆可依其時脈(記憶體與數位訊號)進行測試,其針腳量測模組可針對客戶的封測產品達到良善的數據良率檢測。

此次推出的4種Smart Scale測試機台共分A、C、S、L不同尺寸的測試頭,而這批測試機等級彼此相容,在測試時可迅速簡單地互相調整換至其他機台,此外,新的測試方案還可用於測試系統級封裝(System in package, SiP)與晶圓級晶片尺寸封裝(Wafer Level Chip Scale Packaging ,WLCSP)等。

目前在全球自動化測試設備(ATE)商的競爭領域裡頭,晶片測試設備商供應大廠主要包括泰瑞達(Teradyne)、愛德萬(Advantest)及惠瑞捷(Verigy),囊括全球超過半數的市占率。

關鍵字: #半導體

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